[情報] 微奈米力學特性量測技術研討會
微奈米力學特性量測技術研討會
日期：12月3日(星期四) 9:00~16:00
地點：工研院光復院區3館119A會議室 (新竹市光復路2段321號)
報名日期：即日起
報名網址：
http://www.nml.org.tw/training.orig/course/course_details.php?id=98151
報名費：NT2,500元/每人
講師： K. Herrmann 德國聯邦國家實驗室(PTB) 專家研究員
張瑞慶 聖約翰科技大學 院長
林明澤 中興大學精密工程研究所 副教授
陳生瑞 工業技術研究院量測中心 研究員
顏宏儒 工業技術研究院材化所 研究員
內容： 時 間 單元內容(講師)
09:00-09:50 奈米壓痕術在奈米薄膜性質檢測與最新發展
Development of measurement methods and measures
for film thickness (Herrmann博士)-中文講授
09:50-10:00 Tea break
10:00-10:50 導電薄膜沈積於軟性基材之殘留應力與機光電性質分析
(張瑞慶院長)
10:50-11:40 Design and Development of a Novel Paddle Test
Structure for the Mechanical Behavior Measurement
of Thin Films (林明澤副教授)
13:00-14:00 奈米薄膜檢測實務 (顏宏儒先生)
14:00-14:20 Tea break
14:20-15:20 奈米微力校正機構最新發展 (陳生瑞 博士)
15:20:16:00 奈米壓痕機台及奈米微力機構參觀
(吳忠霖、遲雅各、陳生瑞 博士)
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※ 編輯: singshepherd 來自: 140.113.165.235 (11/19 16:08)
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