[問題] 各位大大!

看板PhD (博士班)作者 (多少悶虧自己吞)時間15年前 (2010/09/24 09:57), 編輯推噓8(8017)
留言25則, 9人參與, 最新討論串1/1
小弟有幸獲得某期刊revise的機會! 可是現在有個問題相當困擾我!! 其中有個reviewer問到一個問題 是如此:(直接引用) 1.Does author have the evidence (Cross sectional FESEM or TEM images) for schematic structure of device in Figure 1.How to know the monolyaer cover the nanorod such a good uniformity? 而後試著拍TEM 來證明表面上的確有nanoparticle的存在 但是採用磨試片的方式去做,因此看到的結果幾乎不是像reviewer所說的那樣... 後來想採FIB的方式去做,但是可能要花上一筆不小的經費.... 教授的意思是希望可以省下這個經費 試著用其它的方式,來間接的證明上方有particle的存在!! 想請問各位大大,如果是按照如此的方式去做.... reviewer會接受嗎? 因為聽說學長之前好像也是在revise的時候沒有補TEM的圖最後被reject.....>0<" 這是我第一篇有機會可以上的paper,希望一次就上不要再被reject.... 煩請大家給我點意見,謝謝!! -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc) ◆ From: 140.112.102.175

09/24 10:30, , 1F
看了好多次..不要再說"有幸"如何如何了. 這種地方沒必要自謙
09/24 10:30, 1F

09/24 10:31, , 2F
成這樣...如果你能用其它方式證明 就算不是 reviewer 建議的
09/24 10:31, 2F

09/24 10:32, , 3F
方式也可以..但結果得如 TEM 般夠 solid & direct 才可以..
09/24 10:32, 3F

09/24 11:58, , 4F
建議title換一下orz
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09/24 12:51, , 5F
不一定要是TEM 但是證據必須夠明確 可以的話想個理由說
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09/24 12:52, , 6F
名為什麼沒有TEM 這樣比較OK點
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09/24 12:56, , 7F
FIB你可去電子所請管理者幫忙 當然要付費 不過你是台大的
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09/24 12:56, , 8F
記得不會太貴 小時計算...
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09/24 13:01, , 9F
如果要看表面的uniformity 也可以考慮AFM ??
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09/24 15:29, , 10F
AFM看表面OK,但是AFM容易失真,用FIB+TEM為上選
09/24 15:29, 10F

09/24 15:30, , 11F
我比較好奇,你沒觀察看的結構確在示意圖畫出來...
09/24 15:30, 11F

09/24 15:32, , 12F
這是挖坑給reviewer問..如果基材可以換成軟性,
09/24 15:32, 12F

09/24 15:33, , 13F
上面各層結構不厚,可以嘗試microtoming
09/24 15:33, 13F

09/24 19:17, , 14F
錢砸下去吧~~~
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09/24 19:18, , 15F
如果採用間接證明方式,無法說服reviewer
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09/24 19:18, , 16F
會浪費很多時間
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09/24 19:18, , 17F
不如說服老闆花錢
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09/24 19:20, , 18F
因為reviewer用了"evidence"
09/24 19:20, 18F

09/24 19:20, , 19F
這不只是 how to prove 而已喔
09/24 19:20, 19F

09/24 19:22, , 20F
對於reviewer提問的用字,還是得斟酌一下
09/24 19:22, 20F

09/24 19:23, , 21F
因為我們不是使用英文當母語
09/24 19:23, 21F

09/24 19:23, , 22F
這是我的看法,參考看看
09/24 19:23, 22F

09/25 21:32, , 23F
鄉民畢竟不是reviewer,不想花錢就找類似的reference去cite
09/25 21:32, 23F

09/26 14:36, , 24F
第一個問題通常是很重要的 最好是照著意見做....
09/26 14:36, 24F

09/27 19:17, , 25F
FESEM看截面 或者是把你的奈米棒刮下來撈片看TEM
09/27 19:17, 25F
文章代碼(AID): #1Cd0MGKm (PhD)
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