[問題] 薄膜量測熱膨脹係數(CTE)

看板Mechanical (機械)作者 (Hurricane)時間8年前 (2017/05/31 21:55), 編輯推噓3(307)
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版上各位晚安, 公司內部要開始建立材料的熱膨脹係數, Vender提供的是以TMA測定的CTE數值, 我們希望能量測材料在實際應用面時呈現的數值, 因此希望能將材料以薄膜方式圖佈在基材上去做量測, 目前找到的方法有微懸臂量測(From 學術界), 但sample製作相當費工, 可能無法考慮每種材料都這樣做, 同時也有找到利用奈米壓痕跡測試CTE, 但目前可以送測的單位也遇到無法量測的問題(控溫系統無法控制) 不知道各位是否有推薦可以量測的方法? 本身非機械領域, 大部分資訊都是查詢後 發現學術界會探討薄膜機械性質或特性的多為機械系, 因此來版上詢問~ 隔行如隔山, 先謝謝各位指點囉!! -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 180.177.12.150 ※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Mechanical/M.1496238917.A.123.html

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可以以公司名義向宜特或SGS詢問他們家有怎樣的機台可以達
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到你要的需求吧
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p大這方面我們也有詢問,但目前都沒有符合需求的測定
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方式
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熱膨脹係數不好測喔 建議你去問學校教授
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你的薄膜是微米還是奈米等級?如果塗布在膜材上不會擔心被
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膜材的cte干擾嗎? 如果是拉伸的pet膜還要考慮md/td方向的c
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te差異跟熱後縮等
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膜材主要是2-50um等級,塗布在Si wafer上,因為想知
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道實際應用狀況所以想確認有被影響狀況下的CTE
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文章代碼(AID): #1PBij54Z (Mechanical)
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