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討論串[請益] 非破壞式 薄膜量測儀器
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#3
Re: [請益] 非破壞式 薄膜量測儀器
推噓1(1推 0噓 0→)留言1則，0人參與, 最新作者konan520 (柯南)時間13年前 (2013/01/01 22:37), 編輯資訊
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omron. http://0rz.tw/Q3S8Q. ．2維CMOS雷射型。. ．向奈米級邁進支援核心品質的超高性能型。. ．亦備有測量中心距離20~1,500mm等產品系列。. ．解析度最高可達0.02μm (0.001μm) 。. ．應答速度最快可達110μs 。. ．採用多工功能，最多可同時
#2
Re: [請益] 非破壞式 薄膜量測儀器
推噓0(0推 0噓 0→)留言0則，0人參與, 最新作者dbdbdb17 (db)時間13年前 (2012/12/28 22:12), 編輯資訊
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我想詢問...哪種儀器,可以量測coating鍍層厚度(2種鍍層以上). 鍍層用一般超音波因該可以. 但可能會有近表面死區的問題. 可以試試看搭配延遲探頭. (可解決死區). 或是水浸法(設備較貴還有尺寸大小的問題). 不過業界有在量測膜厚的儀器就是了. 以上僅供參考~XD. --. ※ 發信站:
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[請益] 非破壞式 薄膜量測儀器
推噓0(0推 0噓 5→)留言5則，0人參與, 最新作者mac123 (mac)時間13年前 (2012/12/27 20:33), 編輯資訊
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各位板上的朋友,你們好. 我想詢問...哪種儀器,可以量測coating鍍層厚度(2種鍍層以上). 但是要非破壞式的量測,. 重點是,不知道coaing鍍層成分之下,是否有合適的儀器,可以量測出來?. 謝謝. --. ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc). ◆ From: 118.232.58
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