Re: [請益] 非破壞式 薄膜量測儀器
omron
http://0rz.tw/Q3S8Q
．2維CMOS雷射型。
．向奈米級邁進支援核心品質的超高性能型。
．亦備有測量中心距離20~1,500mm等產品系列。
．解析度最高可達0.02μm (0.001μm) 。
．應答速度最快可達110μs 。
．採用多工功能，最多可同時測量4個點。
．備有豐富的週邊裝置，可依使用目的加以選擇。
上次去桃園看展
有看到這個
※ 引述《dbdbdb17 (db)》之銘言：
: ※ 引述《mac123 (mac)》之銘言：
: : 各位板上的朋友,你們好
: 我想詢問...哪種儀器,可以量測coating鍍層厚度(2種鍍層以上)
: : 但是要非破壞式的量測,
: : 重點是,不知道coaing鍍層成分之下,是否有合適的儀器,可以量測出來?
: : 謝謝
: 鍍層用一般超音波因該可以
: 但可能會有近表面死區的問題
: 可以試試看搭配延遲探頭
: (可解決死區)
: 或是水浸法(設備較貴還有尺寸大小的問題)
: 不過業界有在量測膜厚的儀器就是了
: 以上僅供參考~XD
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◆ From: 219.69.86.166
推
01/02 21:00, , 1F
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