[心得] 給IC測試工程師的基本入門指南
開頭破題
這篇是留給想做IC測試(Testing) 或是同我一樣沒有想法誤打誤撞進入這行的新手所看的
一篇初級指南,主要用於分類或給予新人在職場上的定位,以及未來的出路
技術面上就不談太多,小弟資歷尚淺,也就不獻醜了
===========以下正文
首先,把測試這個職務以人力銀行的職缺做區分,大致有軟體及硬體這兩個部分
軟體測試五花八門,只要不是IC設計驗證測試的都不是本篇內容,這邊不贅述。
硬體測試才是一般IC測試/驗證的主軸,依照你在的公司類型有4個類型
1.IC Design House(Fabless)
當你在 Design House 底下,一般會有兩個工作範圍
a.替自家的IC在CP/FT段寫寫機台程式,做一些RD實驗,通常派到subcon去借機來寫
b.DFT Team 或 DV Team ,用Verilog 寫 Test Bench 模擬FSM的狀況 或設計DFT
通常最缺的是a,這裡的測試不會是純黑箱,所以多少能從Datasheet內學到一些
測試手法或知識作為未來的經驗
參考資料 : 你家公司的網站,去撈datasheet下來看function diagram很重要
未來轉職 : 同公司的FAE 或 其他公司的測試工程師
2.Foundry / Factory
在半導體段,分成3大類,WAT 及 CP ,有錢的會多拆一組給Device/RA Team做LAB的工作
a.WAT
Wafer Acceptance Test,測IC上的testkey,包含自家的layout
最佳化及客戶實驗的function
b.CP
Circuit Probing ,真正的100%測試,量產的關鍵,主要針對DC + Function的驗證
寫寫ATE測試程式,會接觸到產品工程師,所以多少了解半導體物理特性
測試出來的資料會對應到不同製程段的異變
會有一些針對自家CELL的實驗性質的工程
c.LAB (元件/可靠度驗證)
假設在CP段沒有測試function或是因為設計問題不能在CP上測試的,會移到可靠度進行
如RF要量測Scattering Parameters ,或是驗junction temperature
以及針對車用/手機等不同規格使用的可靠度驗證
這裡多使用半自動測試量測儀器
參考資料 : 多了解製程與電性的關聯,會在測試上更有收穫
未來轉職 : 在WAT或CP段轉設備商或IC設計,或轉產品工程,在LAB則可以多轉RA工程
3.Assembly House / Testing House
專職測試的委外測試廠,一般分成兩類
a.CP+FT的測試工程師
純粹的黑箱測試,照表抄課
替不想出人力的Design House 建立測試程式,以及 Device Setup,轉個Platform
寫點小程式轉一些Pattern
b.CP+FT的客戶測試服務工程師
把編輯好的程式放入特定資料夾上傳,定期回報良率,即時更新程式版本及資料回傳
參考資料 : 各家測試機的使用手冊,多跨Platform會讓你在ATE使用上更得心應手
未來轉職 : a會是設備商的最愛,或轉成客戶的測試工程師,b就自求多福......
4.Verification Lab / Vendor
這邊基本上沒得談,市面上的那幾間設備商的FAE就是你未來的選擇
幫客戶轉不同Platform 寫個自家程式算是基本,交際也要有一定的程度
客戶穩定就是爽爽做,客戶很硬就要夾起來做
參考資料 : 背好自家機台的設定精度/範圍,以及一顆寵辱不驚的心
未來轉職 : 以上皆可
版上蠻多測試新人之所以很難找到一篇適合的測試資料,或是很難入門
最重要的是不知道自己身處何處,以至於不曉得該如何下手
希望這篇對不小心走了這行的新人會有幫助
有其他問題的也可以在推文直接問,我能回答就回答
也可能會有錯的可以直接指正,我一併修改
--
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謝謝 縮寫用慣了 細節就漏掉了
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FT是Final Test沒錯,簡單來說是指封裝後測試
CP的C用Circuit 或 Chip都沒問題,你用OM看chip,裡面就是Circuit
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機械也可以啦 有看過土木也來做的 只是通常都從封測廠開始熬而已
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Automatic test 泛指 IC在出廠前會進行很多的AC/DC電性測試項目
將它整合到只要壓一個按鍵就能依照TestFlow全部測試完成並產生測試資料的程度
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這個問題建議問Marketing職務的板友
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4=1>>2>3,4底薪高,1看公司產品獲利程度,2基本15-16個月,3就靠加班費
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我想頂尖的人才不管身處哪個領域,都會有頂尖的待遇
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磨個兩年差不多就可以了
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在封測廠拿到的資料通常是 TestPlan + TestFlow,裡面已經有設定好的值跟測試順序
大部分的pattern也會包給你,照表操課就可以
在Design House 拿到的會是 Procedure + datasheet,會有完整的Timing Diagram及
描述測試項目的定義,可能要自己做一些Pattern
前者是按照既定好的方式做setup及資料蒐集回報而已
後者則會多考慮及設計TestPlan讓測試效率更佳,並了解測試項目的意義
※ 編輯: ghost008 (116.241.149.115), 01/02/2019 18:52:34
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簡單的進mode自己寫就好,如果是DFT提供的,可能格式不符合subcon的機台
就要自己寫一個C Code 轉換
DFT 或 RD 有 買 EDA Tool的話可以在Simulation後自動轉出pattern
嚴謹的公司會在ATE上試跑讓pat穩定
了不起會有shmoo變小的狀況,有些隨便轉的timing會跑掉,debug會很麻煩
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※ 編輯: ghost008 (116.241.149.115), 01/03/2019 07:45:30
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是3沒錯。互換到其他地方的話要對產品掌握度夠才行 不然就是只能去設備商
※ 編輯: ghost008 (116.241.149.115), 01/13/2019 18:58:13
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測試驗證的定義不是只在CP/FT而已,Testbench也是在設計激勵訊號的輸入輸出
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※ 編輯: ghost008 (114.137.64.82 臺灣), 06/27/2019 22:10:21
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