Re: [討論] 晶片體質

看板Tech_Job (科技人)作者 (阿皮回家啦!!)時間8年前 (2017/09/18 13:05), 編輯推噓4(407)
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我都是作前端的前端, 趁此文章想請教此版各位高手. 1. 一般現場狀況是怎樣測試晶片到不到的了某個操作頻率? 會不會剛開始跑的到, 後來跑不到? 2. 一棵die 失敗, 占整顆chip的成本約多少? ※ 引述《FTICR (FT-ICR)》之銘言: : 一片或一批 wafer 切出每片晶片一定體質有差,有些頻率可以跑比較高有些比較低 : Intel 也把保證可以跑到不同頻率的晶片標上不同型號來賣 : 不過像是蘋果的晶片,以 A9 為例,Wikipedia 寫設計頻率是 1.85 GHz : 1. 這樣的話整批做出來的晶片,跑不到這頻率就算是不良品 : 2. 還是這些晶片可能拿去組裝比較低階的產品 : (像是可以跑到 1.85 GHz 用去組裝 iPhone 6s,1.5~1.8 GHz 用去 iPhone SE 或 iPad) : 甚至不同地區銷售的 iPhone 因為價格不同,用的晶片等級可能會有差? : (好像沒看過這樣的評測或新聞過) : 我自己認為比較可能是選項1.,整批做出來是幾乎都可以跑在設計頻率以上, : 不知道對不對? : 是否有前輩可以分享這方面經驗? 感謝! -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc), 來自: 220.128.66.252 ※ 文章網址: https://www.ptt.cc/bbs/Tech_Job/M.1505711102.A.81F.html

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1. 那要 sampling 做加速老化測試
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2. 不一定,看封裝型式,例如LCD driver IC (COF) 約佔 t
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otal cost 的 30%
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要測試頻率,業界的做法是埋一個專門測試頻率用的小晶圓
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然後測試這個小晶圓通過的delay時間。
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然後依據此delay時間,在與這顆ic真實能跑的頻率兩者相比
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就能過在CP測試平台測出跑不到標準頻率的die了。
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因為每個產品die大小差太多,所以成本結構會完全不一樣。
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Speed sensor
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+DVFS
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就DFT裡面的on speed test,google一下
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